AFM (Atomik Kuvvet Mikroskopisi) yüzey topoğrafyası ve 3 boyutlu görüntüsünü alabilen bir cihazdır. Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir tip yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, tipin yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı tipler kullanılır.
